產(chǎn)品用途
低氣壓試驗箱是模擬高海拔地區(qū)和高空環(huán)境、低于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓環(huán)境的試驗箱。主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測量。
結(jié)構(gòu)特點
● 采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，試驗箱由位于前部的保溫箱體（承壓結(jié)構(gòu)）、位于后部的制冷、真空機組和位于試驗箱大門上的電器控制器（系統(tǒng)）組成；
● 電器控制面板置于試驗箱的正面大門上便于運行操作；
● 制冷機組及真空機組置于獨立的機箱內(nèi)，以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響，同時便于設(shè)備的安裝和維護；
● 為了降低制冷真空機組運行時產(chǎn)生的噪音，在機箱內(nèi)壁安裝有用于吸音、隔音的特種海綿吸音材料，主要的運動部件均采取了防振降噪措施。
控制系統(tǒng)特點
● 溫度恢復(fù)時間小于等于5分鐘。
符合標(biāo)準(zhǔn)
● GB/T10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
● GB/T 10591-2006 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
● GB/T 11159-2010 低氣壓試驗箱技術(shù)條件
● GB/T 2423.25-2008/IEC 60068-2-40：1976 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
● GB/T 2423.26-2008/IEC 60068-2-41：1976 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
● GJB 150.2A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第2部分:低氣壓（高度）試驗
● GJB 360B-2009中的方法105 低氣壓試驗
