功能特點(diǎn)
1. ms級(jí)高速短斷路測(cè)試判斷（專利號(hào)：201210021127.2）
短斷路測(cè)試是線束線纜測(cè)試儀最常用的基本測(cè)量功能，短斷路測(cè)試速率的大小反映了線束測(cè)試效率的高低。
鑒于本系統(tǒng)最多測(cè)試通道數(shù)可達(dá)數(shù)千路，因此，短斷路測(cè)試速度將嚴(yán)重影響儀器測(cè)試效率。本系統(tǒng)創(chuàng)新研發(fā)二分法短斷路測(cè)量專利技術(shù)，使短斷路測(cè)試不再成為測(cè)試效率提升的瓶頸。
2. 1A恒流、四線式測(cè)量，確保焊接電阻精確測(cè)量
焊接點(diǎn)、鉚接點(diǎn)、緊固件等接觸類電阻，通常為mΩ甚至μΩ級(jí)別，常規(guī)線束測(cè)試采用的恒壓法或者小電流恒流法難以達(dá)到理想的測(cè)量分辨率和測(cè)試精度。
TH6XX系列產(chǎn)品憑借公司多年微弱信號(hào)測(cè)試技術(shù)積累，采用專有的μΩ級(jí)接觸電阻測(cè)量技術(shù)，保證μΩ級(jí)別微小接觸電阻測(cè)試穩(wěn)定、可靠，重復(fù)性高：
a) 采用DC恒流測(cè)試方法，將恒流源電流提高至1A；
b) 采用四線式測(cè)量技術(shù)，有效消除測(cè)試引線電阻壓降帶來(lái)的測(cè)試誤差；
c) 支持快速短路清零，最小測(cè)試分辨率穩(wěn)定可達(dá)1μΩ
d)在微小電阻測(cè)試時(shí)，測(cè)試連接系統(tǒng)存在數(shù)μV至數(shù)十μV的金屬接觸熱電勢(shì)，且該熱電勢(shì)隨系統(tǒng)和外界環(huán)境溫度不斷變化。因此，消除熱電勢(shì)影響成為系統(tǒng)穩(wěn)定測(cè)量的主要因素。本系統(tǒng)可快速、可靠地消除接觸熱電勢(shì)的影響，保證μΩ級(jí)接觸電阻的穩(wěn)定測(cè)量。
3. 支持熱敏電阻（NTC）測(cè)量
被測(cè)線束系統(tǒng)往往包含熱敏電阻（NTC）元件，測(cè)試NTC元件需同時(shí)測(cè)試阻值和溫度，并在特定溫度下判斷NTC電阻處于用戶設(shè)定的上下限范圍內(nèi)。
TH6XX系列將恒定電壓施加在被測(cè)NTC電阻兩端，分別采樣電壓和電流，最后計(jì)算出NTC電阻值。同時(shí)，系統(tǒng)根據(jù)內(nèi)置溫度傳感器測(cè)量得到當(dāng)前溫度T0，在客戶提供的R-T表中，獲得T0環(huán)境下NTC對(duì)應(yīng)的上下極限，自動(dòng)判斷是否合格。
儀器支持NTC一鍵設(shè)定。
4. 高低壓分離，范圍更寬、精度更高的絕緣電阻測(cè)試（專利號(hào)：202310166151.3）
線束測(cè)試時(shí)，涉及短斷路、導(dǎo)通、元器件、交流阻抗、耐壓、絕緣等參數(shù)的測(cè)試，不同參數(shù)測(cè)量技術(shù)不同，各種高低壓、交直流信號(hào)相互干擾，將嚴(yán)重影響通道間絕緣性能并降低絕緣測(cè)試穩(wěn)定性及測(cè)試范圍。
TH6XX采用高低壓分離專利技術(shù)，將高低壓、高低頻信號(hào)相互隔離，有效解決了通道間相互干擾的關(guān)鍵技術(shù)難題，將儀器自身絕緣阻抗提高到100GΩ，從而使絕緣電阻測(cè)試范圍達(dá)到了10GΩ以上。
5. 多種高壓測(cè)量技術(shù)，保證系統(tǒng)高效測(cè)試（專利號(hào)：201810815965.4）
TH6XX系列產(chǎn)品內(nèi)置二分法、一對(duì)其他、所有對(duì)地、自動(dòng)測(cè)試及相鄰腳位測(cè)試多種高壓測(cè)試方法，在保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確的情況下，極大的提升測(cè)試效率。
6. 接觸檢查功能
在線束系統(tǒng)、電池焊點(diǎn)等生產(chǎn)測(cè)試時(shí)，測(cè)試點(diǎn)數(shù)量規(guī)模龐大，多達(dá)幾百乃至數(shù)千個(gè)測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試線連接發(fā)生故障時(shí)，故障排除將是非常艱巨的任務(wù)。由于測(cè)試頻繁，測(cè)試線、工裝、模具等與被測(cè)件的測(cè)試點(diǎn)會(huì)產(chǎn)生接觸不良狀況，一旦出現(xiàn)接觸不良，器件參數(shù)、耐壓絕緣等不良品可能會(huì)被判定為合格，尤其在自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中，若無(wú)實(shí)時(shí)測(cè)試線接觸檢查，一旦出現(xiàn)上述接觸不良情況，會(huì)產(chǎn)生批量產(chǎn)品誤判，從而造成重大產(chǎn)品質(zhì)量事故。
TH6XX系列產(chǎn)品配置了實(shí)時(shí)高效的硬件測(cè)試線接觸檢查功能，可將測(cè)試線接觸不良導(dǎo)致的隱患提前排除，保障系統(tǒng)可靠測(cè)試、提高用戶測(cè)試效率。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | TH615-1280 TH615-2560 | TH615-640 TH615-1280 | TH630-160 TH630-320 TH630-640 | TH640-160 TH640-320 TH640-640 |
兩線/四線 | 兩線 | 四線 | 四線 | 四線 |
最大測(cè)試點(diǎn) | 2560 | 1280 | 640 | 640 |
最多可用模塊 | 20 | 20 | 20 | 20 |
顯示器 | 7寸TFT LCD真彩顯示器，800X480分辨率，16位色 |
測(cè)試信號(hào)源 | 交流信號(hào)源 | 頻率 | 范圍 | 50Hz - 100kHz |
精度 | 0.02% |
幅度 | 范圍 | 1Vrms |
精度 | 10% |
可編程直流源 | 電壓源 | 范圍 | 0.1V - 5V |
精度 | ±（2%設(shè)定值 + 0.1%滿度） |
電流源 | 范圍 | 1-20mA、100mA、1A |
精度 | ±（2%設(shè)定值 + 0.1%滿度） |
可編程高壓源 | 直流 | 范圍 | 50V - 1500V  50V - 1500V 50V - 3000V 50V - 4000V |
精度 | ±（1%設(shè)定值 + 0.5%滿度） |
交流 | 范圍 | 50V - 1000V 50V - 1000V 50V - 2000V 50V - 3000V |
精度 | ±（1%設(shè)定值 + 0.5%滿度） |
測(cè)試速度 | 與測(cè)試通道有關(guān)，具體參考說(shuō)明書(shū) |
電容測(cè)量 | 范圍 | 10pF-1000μF |
精度 | 100pF - 220pF | ±（10%讀值+0.5%滿度） |
220pF - 6.8nF | ±（5%讀值+0.3%滿度） |
6.8nF - 330nF | ±（5%讀值+0.3%滿度） |
330nF - 1.5uF | ±（5%讀值+1%滿度） |
1.5uF - 33uF | ±（5%讀值+0.5%滿度） |
33uF - 1000uF | ±（5%讀值+0.3%滿度） |
電阻測(cè)試 | 范圍 | 10μΩ -10MΩ |
精度 | 焊接 | 10μΩ -10mΩ，量程：10mΩ，±（1%讀值+0.05%量程） |
導(dǎo)通 | 10mΩ - 1kΩ，量程：1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ， ±（1%讀值+0.05%量程） |
直流 | 1kΩ - 10MΩ， 量程：10kΩ、100kΩ、1MΩ、10MΩ， ±（1%讀值+0.05%量程） |
斷短路測(cè)試 | 范圍 | 1kΩ-50kΩ |
精度 | 10% |
速度 | 640點(diǎn)/40s 640點(diǎn)/0.1s 640點(diǎn)/0.1s 640點(diǎn)/0.1s |
二極管測(cè)試 | 電壓 | 0-10V |
精度 | ±（5%讀值+1%滿度） |
絕緣電阻 | 范圍 | 1MΩ-10GΩ |
精度 | 1MΩ-100MΩ ±(3%讀值+0.1%滿度) |
100MΩ-10GΩ ±(7%讀值+2%滿度) |
直流漏電流 | 范圍 | 1μA-5mA |
精度 | 量程：5.5uA、55uA、0.55mA、1.1mA、5mA，±（5%讀值 + 0.04%滿度） |
交流漏電流 | 范圍 | 10UA-5mA |
精度 | 量程：55uA、0.55mA、5mA，±（10%讀值 + 0.1%滿度） |
接觸檢查 | 僅限4線模式 |
HANDLER接口 | 8路輸出，提供幾十種信號(hào)自定義 8路輸入，提供啟動(dòng)，停止，調(diào)檔(最多30個(gè)檔案)等信號(hào) |
體積（mm）（W×H×D） | 483x396x535 483x660x535 | 483x396x535 483x660x535 | 483x311x535 483x396x535 483x660x535 | 483x311x535 483x396x535 483x660x535 |
重量 | 約35kg 約60kg | 約35kg 約60kg | 約28kg 約35kg 約60kg | 約28kg 約35kg 約60kg |